涂料工业 ›› 2000, Vol. 30 ›› Issue (2): 38-40.

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原子力显微镜在涂层分析中的应用

刘 斌1,孟繁强2,尚永春1   

  1. 1、中国人民解放军海军后勤学院帆缆涂料教研室,天津塘沽 300450;2、天津管道工程集团,300113
  • 出版日期:2000-02-01 发布日期:2019-05-20
  • Online:2000-02-01 Published:2019-05-20

摘要: 原子力显微镜(AFM)是近年来迅速发展起来的一种重要的分析测试工具。本文在简述AFM 工作原理的基础上,综述了AFM 在涂层分析若干方面的新应用,并对AFM在涂料领域的应用前景作了展望。

关键词: 原子力显微镜, 涂层, 聚结程度, 分析